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    表面成分元素分析第三方检测机构推荐认可天猫质检报告可以让你放心!

    更新时间:2024-05-18   浏览数:415
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    表面组分(元素)分析

    X射线能谱分析(EDS)聚焦离子束分析(FIB)俄歇电子能谱分析(AES)X射线光电子能谱分析(XPS)
    动态二次离子质谱分析(D-SIMS)飞行时间二次离子质谱分析(TOF-SIMS)


    简要介绍:

    表面分析技术利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用,测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像,得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术,统称为表面分析技术。

    表面组分分析包括表面元素组成、化学态及其在表层的分布测定等。后者涉及元素在表面的横向和纵向(深度)分布。


    表面分析特点:

    表面是固体的终端,表面向外一侧没有近邻原子,表面原子有部分化学键伸向空间,形成“悬空键”。因此表面具有与体相不同的较活跃的化学性质。

    表面指物体与真空或气体的界面。

    表面分析通常研究的是固体表面。表面有时指表面的单原子层,有时指上面的几个原子,有时指厚度达微米级的表面层。


    应用领域:

    航空、汽车、材料、电子、化学、生物、地质学、医学、冶金、机械加工、半导体制造、陶瓷品等



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